单片机原理与应用实验一 清零程序(C语言版)

单片机原理与应用实验一　清零程序

（设计性实验）

一、实验目的

掌握汇编语言设计和调试方法。

二、实验原理

利用R0寄存器做为循环次数计数器，利用DPTR寄存器做为外部RAM的地址指针，通过循环赋值实现外部RAM 0000H～00FFH单元内容的清零。

三、主要仪器及耗材

星研SUN ES59PA单片机实验仪和PC机。

四、实验内容与步骤

实验内容：

编程实现将外部RAM 0000H～00FFH单元的内容清零。

实验步骤：

① 在星研集成环境下新建项目文件，然后新建源程序文件，注意源程序文件的扩展名应该是ASM。输入源程序并存盘；② 对源程序进行编译、链接形成目标代码，同时排除源程序中的错误；③ 将编译、链接形成的调试文件（.DOB）下载到单片机实验仪中；④ 利用单步、运行到光标所在行等方式进行程序调试；⑤ 检查程序运行结果并进行分析。

五、实验注意事项

在调试过程中，一旦出现单片机实验仪死机的情况，可以在星研集成环境中点击“复位”图标对实验仪进行复位。然后重新将调试文件下载到实验仪中，继续调试。

六、思考题

1、如果将内部RAM 20H～3FH单元的内容清零，应该如何做？
2、如果将外部RAM 0000H～00FFH单元的内容赋值为该单元地址值的低8位值，应该如何实现？

七、参考文献

本课程理论课的授课教材。

八、代码

#include<reg51.h>
void main()
{
	int i;
	unsigned char xdata *j=0x0000;
	for(i=0;i<256;i++)
	{*j=0;j++}
}